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O livro Espectroscopia Fotoeletrônica por raios X (XPS) apresenta esta técnica que se tornou essencial em grande variedade de pesquisas. A autora consegue, numa linguagem clara e extremamente didática, introduzir os diferentes usos dessa técnica de caracterização de superfícies sólidas. A obra é abrangente, cobrindo desde a origem da técnica, passa pela descrição do potencial como técnica analítica e cobre inclusive os aspectos técnicos relacionados ao equipamento e à geração dos raios X. O livro mostra como a técnica de XPS pode ser utilizada para a caracterização das primeiras camadas da superfície de um sólido, conhecimento particularmente importante em campos como o dos catalisadores sólidos [em particular aqueles empregados industrialmente], materiais usados em nanotecnologia etc. São descritos exemplos como o uso para a determinação das concentrações relativas de diversos constituintes das primeiras camadas de um sólido, grau de oxidação dos diversos elementos e/ou o caráter covalente das ligações envolvidas. Este livro é muito bem vindo ao preencher uma lacuna em termos de livros-texto em português nesta área de especialidade, de modo que tem todos os atrativos para se tornar um documento fundamental no campo acadêmico,sendo utilizado por cursos de química, física e engenharias, assim como devendo se incorporar aos acervos dos centros de pesquisa e desenvolvimento acadêmicos e industriais.
Editora: Synergia Editora
Especialidade: ENGENHARIA, GERAL
ISBN: 9788561325619
Páginas: 0102
Ano: 2011
Edição: 1
Encadernação: Capa comum